特性：

• Axometrics偏光測定儀，為目前偏極化量測中最快速的測量系統
• 快速測量快軸方位角度（Fast-axis Orientation）、相位延遲（Retardance）、偏光（Polarization）
• 線性/橢圓/圓形的偏極化測量
• 多波長Retardance頻譜的R0(400-800nm)
• 快速測量Biaxial Films R0、Rth和β(須視機型而定)
• 具有旋轉／傾斜機構，於測量時旋轉角度可精確掌握(須視機型而定)
• 可承載最大樣品尺吋:12吋(須視機型而定)
• 操作容易的軟體介面
• 客製化測量模組組合
• 設備大小皆提供客製化設計，不僅提供研究端使用，也能對應至產線上使用

 

應用範圍：

• 液晶（LCD）Cell Gap、Pre-tiltangle、Rubbing direction、twist angle量測
• 多波長延遲片／相位差板（In Plate or Out of Plate）測量
• 偏光片（板）測量多層膜（R0,Rth，B）
• 快軸方位角度測量（Fast Axis Orientation)
• 3D Film的測量（FPR)
• 多面向的LCD的量測（PSVA Multi一Domain)
• 搭配軟體應用，可量測膜厚、n/k值
• 根據不同機型，搭配不同軟體應用，可量測膜厚、n/k值
• LCOS Cell Gap的測量
• LCOS晶圓Retardance和電壓特性關係的測量(須根據選配內容而定)
• 去極化量測

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Poincare sphere 顯示可更清楚的了解光的偏極化狀態可量測出不同波長(400-800nm)下的相位差值波長的分散性。

 

Rth 值測量差距時具有可調控之校正機制，精密度高。

 

高速的測量可幫助各種補償膜的發展研究。