自動光學檢測 (AOI)

　　自動光學檢測（AOI, Automated Optical Inspection）是一種運用機器視覺技術，結合相機、光源及高階軟體的非接觸式檢測系統，能有效取代傳統人工目視檢測。AOI設備以其高效能及高準確性的檢測特性，廣泛應用於現代智慧製造中。
　　隨著AI人工智慧的進步，現代AOI設備引進大數據學習能力，讓系統可自動化應對複雜的檢測需求，提升檢測效率並達成高檢出率與低誤判率的雙重目標，有助於提升整體生產流程並確保產品品質。

3D 自動光學檢測設備(3D AOI) 介紹

　　以往的2D AOI僅能檢測產品表面的顏色與外觀，無法全面呈現產品特性。而KOH YOUNG 3D AOI引領檢測技術革新，透過多角度投射光源(Projection light)及八方向摩爾條紋(Moiré)技術進行產品全面的三維檢測，包括：外觀檢測 (斷裂、刮傷、異物)、尺寸測量 (體積、XY偏移、斜率)、錫球共面性分析(Coplanarity)。

　　3D AOI克服了2D技術的多項挑戰(如:陰影效應與鏡面反射)，提供更精準的高度資訊，顯著提升缺陷檢測能力。

應用
　　KOH YOUNG 3D AOI自動光學檢測設備，廣泛應用於汽車電子、軍事、電信與航空等領域，尤其在半導體(Semiconductor)、印刷電路板(PCB)產業展現卓越價值，應用包括：

• 產品外觀檢測：量測三維尺寸、檢測外觀缺陷及異物。
• Wafer製程檢測：切割道寬度、裂痕（Peeling/Chipping）…等Defect狀況。
• 黏晶檢測：偏移（Shift）、傾斜（Tilt）、Die Crack、錫球共面性…等Die bond製程問題。
• SMT製程檢測：錫膏體積、爬錫（QFN）、橋接等瑕疵檢測。

產品特點：

• 高速檢測：Koh Young 3D AOI，每個視野範圍（FOV）掃描時間小於1秒。
• 摩爾紋技術：專利Moiré 3D Projection投射技術，有效克服輪廓陰影問題。
• 同軸光學系統：顯著提升高反光產品的檢測準確性。
• 人性化介面：大幅簡化程式編輯時間，快速完成上線檢測目標。
• 符合IPC-610規範：可快速定義元件外觀、焊點的檢測條件。
• 卓越穩定性：高異常檢出率與低誤判率。

　　憑藉獨特的3D AOI技術，Koh Young不僅為客戶提供了全面的創新解決方案，更實踐了品質控制的高標準。

若您對我司所代理之KOH YOUNG 3D AOI三維自動光學檢測設備有興趣，歡迎來電或來信詢問