KOH YOUNG 3D自動光學檢測設備
自動光學檢測 (AOI)
自動光學檢測(AOI, Automated Optical Inspection),是一種運用機器視覺的檢測技術。透過相機、光源與軟體的搭配,取代傳統的人工目視檢測,對產品進行高效率、高準確性自動光學檢測的非接觸式系統。在智慧製造的時代,將AI人工智慧導入既有的AOI系統,透過大量AI系統的參考數據,讓機器學習、判斷日益複雜的檢測項目,確保產品和整體生產製程的品質,並達到高檢出率、低誤判率的目標。
3D 自動光學檢測設備(AOI) 介紹
以往的2D AOI,僅能針對待測物表面進行顏色、外觀的檢測。KOH YOUNG3D AOI機台透過多角度的投射光源(Projection light)、八方向的摩爾條紋(Moiré)掃描產品的輪廓,進行外觀全檢、體積、尺寸檢測、斜率、XY偏移、裂痕、刮傷、異物、錫球共面性(Coplanarity)等缺陷檢測。透過3DAOI自動光學檢測系統導入的高度資訊,解決普遍2D檢測技術的不足(輪廓周遭陰影、鏡面反射問題),提升機台的缺陷檢測能力。
應用
KOH YOUNG 3D AOI自動光學檢測設備,適用於汽車電子、軍事、電信、航空等多項產業領域中,其中在半導體(Semiconductor)、印刷電路板(PCB)產業的應用如下:
- 產品表面的三維尺寸自動量測及外觀、缺陷、異物檢測
- Wafer切割道寬度、Defect、裂痕檢測(Peeling、Chipping)
- 黏晶(Die bond)製程中Die Crack、偏移(Shift)、傾斜(Tilt)、錫球(Bump)尺寸、外觀、共面性(Coplanarity)檢測
- SMT銲錫之體積、爬錫(QFN)、橋接等瑕疵、缺陷檢測。
產品特點:
- 高速3D AOI三維自動光學檢測,每個FOV(視野範圍)掃描小於1秒。
- 獨家摩爾紋技術(Moiré 3D Projection),克服3D三維輪廓之陰影問題。
- 全新的同軸光學系統,有效提高反光之產品檢測能力。
- 人性化的軟體操作界面,短時間內可完成程式編輯,提升自動光學檢測效率,進行上線生產。
- 設備穩定性高,優異的異常檢出率,低誤判率。
若您對我司所代理之KOH YOUNG 3D AOI三維自動光學檢測設備有興趣,歡迎來電或來信詢問