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CHUO 光学微细缺陷量测仪

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特性:
  • 光学分辨率1.8um,高速检测,提高产品良率。
  • 可自动量测、触控面板、ITO、线宽缺陷,及其他金属表面等各种细微缺陷检测。
  • 可存取量测数据。
  • 可达客制化量测功能及需求。

特点:

检测用途共三点


规格表:

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