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CHUO 光学微细缺陷量测仪
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特性:
光学分辨率1.8um,高速检测,提高产品良率。
可自动量测、触控面板、ITO、线宽缺陷,及其他金属表面等各种细微缺陷检测。
可存取量测数据。
可达客制化量测功能及需求。
特点:
检测用途共三点
规格表:
若您对我司所代理之数字显微镜有兴趣,欢迎来电或来信询问