光断面深度测定机
Non-Contact Depth Measuring Microscope System

NISSHO光断面深／高度测定机其原理是利用45度的光线投射于待测物（Sample）的表面上，藉由侦测光线随待测物表面高低起伏的变化，进而量测深度、高度信息。

产品特性：
使用光断面原理，高、低段差同时显示, 轴精度可达±1um
X.Y平台移动行程达410mm x 360mm

应用范围：
晶圆（Wafer）沟槽深度、段差高度量测
液晶（LCD）框胶、点胶厚度量测
导线架蚀刻深度
电路板锡球、锡膏厚度

实体显微镜
DZ-160精密型双眼显微镜
TZ-240影像式三眼显微镜
DZ-24O高倍率双眼显微镜

特殊光学仪器

若您对我司所代理之光断面深度量测仪有兴趣，欢迎来电或来信询问