自动光学检测 (AOI)

　　自动光学检测（AOI, Automated Optical Inspection）是一种运用机器视觉技术，结合相机、光源及高阶软件的非接触式检测系统，能有效取代传统人工目视检测。AOI设备以其高效能及高准确性的检测特性，广泛应用于现代智能制造中。
　　随着AI人工智能的进步，现代AOI设备引进大数据学习能力，让系统可自动化应对复杂的检测需求，提升检测效率并达成高检出率与低误判率的双重目标，有助于提升整体生产流程并确保产品质量。

3D 自动光学检测设备(3D AOI) 介绍

　　以往的2D AOI仅能检测产品表面的颜色与外观，无法全面呈现产品特性。而KOH YOUNG 3D AOI引领检测技术革新，透过多角度投射光源(Projection light)及八方向摩尔条纹(Moiré)技术进行产品全面的三维检测，包括：外观检测 (断裂、刮伤、异物)、尺寸测量 (体积、XY偏移、斜率)、锡球共面性分析(Coplanarity)。

　　3D AOI克服了2D技术的多项挑战(如:阴影效应与镜面反射)，提供更精准的高度信息，显著提升缺陷检测能力。

应用
　　KOH YOUNG 3D AOI自动光学检测设备，广泛应用于汽车电子、军事、电信与航空等领域，尤其在半导体(Semiconductor)、印刷电路板(PCB)产业展现卓越价值，应用包括：

• 产品外观检测：量测三维尺寸、检测外观缺陷及异物。
• Wafer制程检测：切割道宽度、裂痕（Peeling/Chipping）…等Defect状况。
• 黏晶检测：偏移（Shift）、倾斜（Tilt）、Die Crack、锡球共面性…等Die bond制程问题。
• SMT制程检测：锡膏体积、爬锡（QFN）、桥接等瑕疵检测。

产品特点：

• 高速检测：Koh Young 3D AOI，每个视野范围（FOV）扫描时间小于1秒。
• 摩尔纹技术：专利Moiré 3D Projection投射技术，有效克服轮廓阴影问题。
• 同轴光学系统：显著提升高反光产品的检测准确性。
• 人性化界面：大幅简化程序编辑时间，快速完成上线检测目标。
• 符合IPC-610规范：可快速定义组件外观、焊点的检测条件。
• 卓越稳定性：高异常检出率与低误判率。

　　凭借独特的3D AOI技术，Koh Young不仅为客户提供了全面的创新解决方案，更实践了质量控制的高标准。

若您对我司所代理之KOH YOUNG 3D AOI三维自动光学检测设备有兴趣，欢迎来电或来信询问